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绝缘电阻测试仪 操作步骤本仪表初次或前赴现场使用前应进行充电（全程充电时间8小时，充电指示灯从红变绿），以免到现场使用过程中缺电。另外还应随时采用本仪表的参考电阻附件来检查本仪器工作是否正常、准确。仪表操作步骤如下：1、准备本仪表接线前，首先应将“工作电源”开关调在关的位置，“高压控制”按钮应断开！被测物应脱离电网，并且被测各端必须经过人工放电棒接通大地，确保方可接线！尤其变电站、发电厂现场等受到电网泄漏感应到强干扰的被测量对象，事先应通过接大地的多个人工放电棒良好接到所有被测量线路端，避免接线时接线人员被电击，本仪表接线完成后才能把被测量端的人工放电棒移开。2、接线把仪表的两个“E”端接到被测物的地或零端，以及大地。把仪表的“L”端接到被测线路端，例如变压器绕组，电缆芯线。把仪表“G”端接到被测回路需要表面电阻泄漏影响的保护环。3、预选测试电压把“高压预选”开关选向需要的测试电源电压。如需要从0V调起时，需要把“高压调节”旋钮反时针旋转到尽头。4、接通工作电源把本仪表“工作电源”开关拨向通，开关上方的指示灯即亮，“kV”电压表显示应0.00kV。5、测试启动把“高压控制”按钮按下，这时高压从L端输出，“kV”表显示L-E之间的电压值，“min.s”表开始计时。6、测试电压细调调节“高压调节”旋钮，可把电压平滑调节到指定值。7、电阻量程选择把“电阻量程”开关选向需要的量程或从MΩ档向2000GΩ量程步进，若仪表连续报警，则表示被测电阻太低，应退低档来测量。8、电阻值读数通过“MΩ/GΩ”表读取电阻值。秒表在高压输出后的15秒、60秒、每隔60秒报时，便于操作者记录。关于吸收比、极化指数的计算公式为：吸收比＝R60s/R15s，即第60秒的电阻读数÷第15秒的电阻读数。极化指数＝R10min/R1min，即第10分钟的电阻读数÷第1分钟的电阻读数。9、测试电压退出将“高压控制”按钮退出，这时“kV”表就会缓慢回零，数字秒表也会退出显示。如果“kV”表不缓慢回零，则应以带电阻的放电棒放电。10、结束当“kV”表显示为0.00kV后，再经过对被测物人工放电棒接通大地，证明后即可关机、拆线。测试结束。
绝缘电阻测试仪 保护线的使用 测量电缆的绝缘电阻时，覆盖表面的泄漏电流通过绝缘体内部与电流汇合，造成绝缘电阻值误差的产生。为避免此种现象的发生，如下图所示，使用保护线（任何导电性裸线）将泄漏电流流经部分卷起来，连接到保护端口后，泄漏电流不流过指示计，可准确测量绝缘体的绝缘电阻。请使用附件的保护测试线连接保护端口。7．极化指数（PI）和吸收比(DAR) 7.1极化指数（PI）和吸收比（DAR）作用：极化指数（PI）和吸收比（DAR）是检查绝缘体的泄漏电流的时间是否增加的试验。确认施加时间的同时泄漏电流没有增加。仪表自动计算极化指数PI和吸收比DAR值，作为判断绝缘性能的判断，极化指数PI和吸收比DAR都表示被测物承受测量电压后一段时间内绝缘电阻的变化情况。7.2极化指数（PI）和吸收比（DAR）区别：对于一般的绝缘体测试，如外壳绝缘、工具手柄等一般在较短时间能测试出随施加电压时间增加漏电流是否增加情况，所以一般用较短时间的试验就能测试出来，短时间测试的绝缘电阻比值DAR称为吸收比（具体测试时间见下面公式），但对于大容量和吸收过程较长的被测品，如变压器、发电机、电缆、电容器等电气设备，有时吸收比值（DAR）尚不足以反映吸收的全过程，可采用较长时间的绝缘电阻比值，即10分钟时的绝缘电阻(R10min)与l分钟时的绝缘电阻(R1min)的比值PI来描述绝缘吸收的全过程，PI称为极化指数，PI和DAR值通过下面的公式计算：
绝缘电阻测试仪高压输电线路绝缘子绝缘电阻值的大小，是直接关系到线路稳定运行的大问题。绝缘子一旦出现零值或脏污，就必须进行清洗或更换，否则就会造成闪络跳闸事故。目前，检测绝缘子的方法和工具很多，但是都属于定性检测，不能准确检测出每一片绝缘子的绝缘状况，起不到检测的作用。而TH-20 快速零值检测装置 （以下简称测试仪）是高性能定量检测与分析的仪器，该测试仪操作方法简单、快捷，能够带电定量地准确测量出每一片绝缘子的电阻值，同时能准确区分已经漏电但尚未击穿处于临界损坏的绝缘子，并将测量结果以数据形式实时记录存储显示，对低值绝缘子能自动报警。二、功能说明1 带电测试功能本测试仪采用特殊技术实现了带电情况下检测绝缘子电阻的功能，使测试仪不再局限于停电检测，应用更为广泛。2 报警提示功能本测试仪根据电力检测标准规程设置低于500MΩ即为低值绝缘子，检测时自动报警提示。在代产品的声音报警的基础上增加了光报警，避免了野外检测报警不够明显的情况。3测试结果存储功能本测试仪可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照测试仪提示依次输入杆塔号、回路号、相别和串号。输入完毕开始进行测试，测试仪自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4历史数据查看及分析功能本测试仪可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并分析低零值绝缘子片数占整串的比例。
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